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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒

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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒的詳細資料:

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S100|泰勒

SURTRONIC  S116 粗糙度儀能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案, 包括多樣化的系統和應用相關的配件,  并且能夠為您的特殊需求定制工裝。耐沖擊性橡膠化塑性整個機身, 聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性,抗磨損的齒輪和軸承堅固的不銹鋼驅動機構。  大容量鋰聚合物電池, 一次充電后可進行至少2000次測量。即開即用能夠讓儀器在待機狀態下1秒即可啟用測量, 充滿電后待機能力長達5000個小時。
任何表面, 任何高度。 包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件,以及深達70mm的測量能力, 在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下, 對具挑戰性的測量位置進行檢測。 防滑的V型腳架設計使系統能夠用在平滑或彎曲的平面上。 測針還能夠反方向底部測量。
像其它導航或智能手機一樣, 擁有4.3寸大尺寸觸屏, 易讀性強。 一頁上可顯示多至7個參數。可將屏幕旋轉四個方向。 輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。 迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數據。
泰勒•霍普森有限公司專業從事超高精度表面及其輪廓形狀測量,是全球*的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商,總部位于英國萊斯特市,我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求,公司產品廣泛應用于現代制造業及新興產業,如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。
SURTRONIC S116 粗糙度儀

一、S116標準配置:
顯示單元;112-1502標準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構;USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱

二、技術參數

數據顯示 :

顯示屏每頁顯示7個測試結果,屏幕上可顯示輪廓圖(剖面圖)

可以打印測試結果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦,分析測試結果

數據存儲:

儀器可以存儲100個測試數據和一個圖形

儀器支持U盤大4G,多可存儲39,000個圖形,每批可存儲10萬個測試結果,共70批數據。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數據。

電源:

充電器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時間:4小時

電池壽命:充電一次可以做2000次測試

待機時間:5000小時

由待機狀態到開機測試狀態,長時間不超過1秒I

自動關機:30秒– 6小時可以自行設置

三、技術指標:

測量范圍:200 um 100 um 10 um

分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm

重復精度 (Ra) :1%測試值+底噪

傳感器原:電感

測量力:150-300mg

測針針尖半徑:標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式:滑動掃描

校準:

自動軟件校準    標準:ISO4287

四、測試參數:

三個取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個濾波器:2CR、Gaussian

評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程:17.5mm

測試速度:

測試速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數:

執行標準:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標準可以測量12個參數: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 :R3z (Daimler Benz)

測試單位:um/uin

五、可選附件

測試平臺:

00級大理石平板:400X250X70mm

有效高度:280mm。


可調Y軸V型鐵

可調范圍:±5mm

V型鐵長度100mm




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