MiniTest 7400測(cè)厚儀精密支架的詳細(xì)資料：

德國EPK MiniTest 7400測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀：

采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

特征：

• 統(tǒng)計(jì)過程控制
• 加硬探頭頂部
• 高度鋼球確保測(cè)量的重現(xiàn)性
• 每秒讀數(shù)多達(dá)20個(gè)
• 內(nèi)置數(shù)字信號(hào)處理傳感器
• 多點(diǎn)校準(zhǔn)可達(dá)5點(diǎn)
• 大面積易讀數(shù)顯示屏
• 顯示zui小zui大值
• 菜單控制界面
• 上下關(guān)聯(lián)的在線幫助

探頭技術(shù)參數(shù)：

1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)

2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作

5.根據(jù) DIN 55350第13部分

6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).

7.包括涂層

篤摯儀器主要經(jīng)營的儀器有EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200   FH4探頭   測(cè)頭FH 4.1   EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400   EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000  A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC    超聲波測(cè)厚儀TT130   超聲波測(cè)厚儀TT120   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL   高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7   A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX   超聲波測(cè)厚儀TT100   高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭   帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX   高精密超聲波測(cè)厚儀CL5   超聲波測(cè)厚儀TT110  超聲波測(cè)厚儀MMX-6   A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS Go   水下超聲波測(cè)厚儀UMX-2  超聲波測(cè)厚儀MMX-6DL  一體化超聲波測(cè)厚儀PocketMIKE  超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTG Std   超聲波測(cè)厚儀MX-3  超聲波測(cè)厚儀MX-5    超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTGME   超聲波測(cè)厚儀MX-5DL    超聲波測(cè)厚儀DM5E Basic   超聲波測(cè)厚儀DM5E   超聲波測(cè)厚儀DM5EDL   濕膜測(cè)厚儀WetTest   德國EPK GalvanoTest小樣品夾具   德國EPK庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000    超聲波涂層測(cè)厚儀PosiTector200   庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 3000   涂層測(cè)厚儀